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LAM | 數字全息表面輪廓術

2022-05-19 12:34
來源:澎湃新聞·澎湃號·湃客
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撰稿 |  Yvon(北京大學,博士生)

表面輪廓術(Surface profilometry,名詞解釋>)是一種探測樣品表面形態的技術,樣品表面的階躍、平坦度、曲率等等都可以用這種方法探測得到。傳統表面輪廓術的核心在于測量掃描探針與樣品表面的相對位置,而隨著這一技術的不斷發展,非接觸式的光學表面輪廓術名詞解釋>)已經逐漸取代傳統的針尖式輪廓術,代表性方法包括利用結構光、多視角三角測量以及白光干涉等等。由于數字全息(Digital holography,名詞解釋>)可以同時獲得光場的相位和振幅信息,因此它在表面輪廓術上的應用也有相當的潛力。因為全息圖的相位分布和光程差成正比,也就與樣品的厚度、反射等建立了直接聯系。

然而,全息圖的相位以2π的周期分布,相差2π整數倍的相位無法相互區分,因此推算得到的光程差就會有一個波長的誤差,即不能分辨該光程差屬于上下哪一個周期分布,在相位曲線上體現為一個跳變。這種現象稱之為相位卷繞(phase wrapping,名詞解釋>),在相位成像系統中是一個非常常見的問題,算法上有多種方法可以解決這一問題,但往往有著計算量大、不可預測等等問題。

圖1 相位卷繞和相位解纏( 圖源>

從硬件的角度出發,也有兩種方法可以實現相位解纏。

第一種是基于多波長的數字全息(Multi-wavelength digital holography,MWDH,它利用多種波長獲得的多張全息圖,等效合成為一張超長波長的全息圖,也就擴大了可識別光程差范圍,解決了相位卷繞。這種方法計算量小但缺點也顯而易見,即系統復雜且造價高昂。

第二種方法是多角度數字全息(Multi-angle digital holography,MADH,通過改變照明角度改變波長,可以實現和MWDH相似的效果,甚至可以等效實現八種不同波長的照明,同時光學系統又較為簡單和靈活。

圖2 MWDH/MADH對不同樣品的成像結果
a b c:MWDH成像的PCB電路板;d:MWDH成像的黃銅緩釋斑塊;e:MADH成像的硬幣;f:MADH成像的三個鏡像表面

近日,南弗羅里達大學的Myung K. Kim報道了利用MWDH和MADH實現的一系列表面輪廓技術,MWDH中,采用了4種波長的激光照明,可以實現毫米甚至微米級別的軸向定位精度;MADH中則實現了8種不同波長照明的系統。

文章發表在 Light: Advanced Manufacturing,題為“Phase microscopy and surface profilometry by digital holography”。

在MWDH中,作者采用了四種不同波長的激光生成全息圖,彼此間波長的差異不到1納米。每兩個不同波長的激光合成的全息圖波長為 Λ??=λ?λ?/|λ?-λ?|,同理可以計算獲得三、四種不同激光的全息圖合成波長,相比于原來的可見光激光波長提升了4個數量級。圖3展示了利用單一波長、兩種波長、三種和四種波長的MWDH掃描硬幣輪廓。可以明顯地看出三種波長合成地效果明顯優于一種和兩種波長,而四種波長的輪廓圖已經基本沒有相位卷繞的現象。

圖3 MWDH測定的硬幣輪廓
a b:兩種波長得到的相位圖;c:兩種波長得到的表面輪廓圖;d:三種波長得到的表面輪廓圖;e:四種波長得到的表面輪廓圖;f:中值濾波后得到的四波長表面輪廓圖

在MADH中,用632.8nm的氦氖激光器從八個不同照明方向獲得全息圖,切換照明方向的方式為保持參考光方向不變,掃描照明光,起始角度為18°,角度變化精度為0.00025°。隨著角度變化,有效波長為 λ?=λ?cosθ?,合成多張不同有效波長的全息圖之后,得到了和MWDH相似的結果。圖4展示了利用單一角度、兩種角度、八種角度MADH掃描的硬幣輪廓,同樣能看出相位跳變和噪聲的明顯減少。

圖4 MADH測定的硬幣輪廓
a b:兩種波長得到的相位圖;c:兩種角度得到的表面輪廓圖;d:三種角度得到的表面輪廓圖;e:八種角度得到的表面輪廓圖;f:中值濾波后得到的八角度表面輪廓圖

總之,MWDH和MADH兩種方法都可以實現高質量的表面輪廓測量,一般而言,MADH有著低成本、低復雜度的優點,且波長的選取較為靈活和可控。在光學像差上,MWDH在波長間隔較大時易受慧差影響;MADH由于照明光束在樣品中的移動也會受畸變影響。這種畸變導致的圖像扭曲可以通過測得對照空白全息圖進行補償。這兩種數字全息表面輪廓術還有著進一步的研究空間,在于針對相位噪聲的現象研究,并可以將這種形貌觀測法進一步應用于器件制造和生物成像。

論文信息

Myung K. Kim. Phase microscopy and surface profilometry by digital holography. Light: Advanced Manufacturing 3, 19 (2022)

https://doi.org/10.37188/lam.2022.019

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